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CdWO4晶體
- 產(chǎn)品概述：
- 鎢酸鎘晶體對X射線吸收系數(shù)大，輻射長度短，可使高能物理探測器做得十分密集，從而降低整個譜儀的造價。近年來，由于鎢酸鎘晶體具有優(yōu)越的光學性能，使它成為了應用在XCT探測器上的首選閃爍體材料。
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如果您需要下載產(chǎn)品的電子版技術文檔，說明書（在線閱覽），裝箱單，與售后安裝條件等文件，請點擊上方的附件下載模塊中選取。商城產(chǎn)品僅針對大陸地區(qū)客戶，購買前請與工作人員溝通，以免給您帶來不便。
技術參數(shù)產(chǎn)品視頻實驗案例警示/應用提示配件詳情
| 產(chǎn)品名稱
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鎢酸鎘(CdWO4)晶體基片
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| 技術參數(shù)
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晶體結(jié)構(gòu)： | 單斜晶系 | 晶格常數(shù)： | a=5.029?，b=5.859?，c=5.074?； α=γ=90o，β=91.47o | 純度： | 99.99％ | 密度： | 7.90g/cm3 | 硬度： | 4-4.5( mohs) | 熔點： | 1325oC | 熱膨脹： | 6.39×10-6/K（ 1.09×10-5/K（ | 折射率： | 2.3 | 生長方法： | 提拉法 |
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| 產(chǎn)品規(guī)格
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常規(guī)晶向： | （010）、（001） | 晶向公差： | ±0.5°內(nèi) | 常規(guī)尺寸： | 10x10x0.5mm, 10x5x0.5mm，5x5x0.5mm | 拋光情況： | 單拋、雙拋 | 拋光面粗糙度： | Ra<5A（5x5μm范圍內(nèi)） |
注：可按客戶要求定制特殊的方向和尺寸。
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| 晶體缺陷
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人工生長單晶都可能存在晶體內(nèi)部缺陷。
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| 標準包裝
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1000級超凈室，100級超凈袋或單片盒封裝
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